高低溫(wen)交變濕(shi)熱(re)試驗箱概述：

高低(di)(di)溫(wen)交變(bian)濕熱試驗箱適用于電(dian)子電(dian)工產品、儀器儀表(biao)、原材料、電(dian)子元件等高低(di)(di)溫(wen)適應性試驗、低(di)(di)溫(wen)恒溫(wen)及儲(chu)存；可程式恒(heng)溫恒(heng)濕試驗(yan)箱(xiang)特別適用于光纖、晶體、精密電感、PCB、LCD等產(chan)品的高低(di)溫適應(ying)性試驗(yan)。

高低溫交變濕(shi)熱試驗(yan)箱詳細資料(liao)：

特點：

• 可(ke)程式恒溫恒濕試(shi)驗箱采用進(jin)口可編程溫度控制器,專家PID算法,LCD顯示設定和測(ce)量溫度，溫度控制穩定可靠,操作簡(jian)單,程式編輯(ji)容易；
• 可程(cheng)式恒溫恒濕試驗箱*的送風循環系(xi)統，避免了(le)氣流(liu)在箱內流(liu)通(tong)死(si)角(jiao)，提高了(le)產品溫度(du)均勻度(du);
• 全封閉進口(kou)壓(ya)縮機(ji)+環保冷(leng)媒+機(ji)械(xie)式單(dan)級/復迭低溫回路系統,制冷(leng)效果好,可靠性(xing)高;
• 完善(shan)的安全(quan)保(bao)護裝置,確保(bao)產品的運行(xing)更加安全(quan)可(ke)靠;
• 可程式恒溫恒濕(shi)試(shi)驗箱多樣的(de)溫度控制器可供用(yong)戶選擇。

執行與滿(man)足標(biao)準

1. GB/T10589-1989 低溫試驗箱技術條件
2. GB/T11158-1989 高(gao)溫試驗箱技術條件
3. GB/T10592-1989 高低溫試驗箱技術條件
4. GB/T2423.1-2001 ;IEC60068-2-1試驗A規(gui)程: 低溫(wen)試驗方(fang)法
5. GB/T2423.2-1989 IEC60068-2-2試(shi)(shi)驗B規(gui)程: 高溫試(shi)(shi)驗方(fang)法

用途(tu)

• 可程式恒溫(wen)恒濕試驗箱適用于電子電工產品、儀器(qi)儀表(biao)、原材料、電子元件等高(gao)低(di)溫適應性試驗、低(di)溫恒溫及儲存；

• 可程(cheng)式恒溫(wen)恒濕(shi)試驗箱特(te)別(bie)適(shi)用于(yu)光纖、晶(jing)體、精密(mi)電感、PCB、LCD等產(chan)品的高低溫適(shi)應性試(shi)驗。